صفحه 1:
الرحمن میم
صفحه 2:
دانشمندان به وسیله ي استفاده از اشعه ایکس چيزهاي زيادي
در مورد ساختار موا با درفت آند. در میان این موارد. آنها نحوه
چیدمان اتم ها در بلورها را فرا گرفته اند.
بنابراین بلورها به عنوان چهار چوبي براي تابش اشعه ایکس
سل سس کت اون ان سکن ان ها آشعه ي ابکس را
تحت الگويي تجزیه مي کنند که نشان دهنده ي جایگاه اتم هاي آن
هاست. طول موج متوسط اشعه ي ایکس در این روش تقریبا برابر
مط یت
کارشناسان مي توانند از اشعه ي ایکس براي تحليل مواد
صفحه 3:
پراش تفر ای وش برای مطالعة ساختار مواد بلوری
است كه 5 دار 01٠ 100 5 رسط فون لاوه كشف شد و توسشط
ويليام هنرى براك و ويليام لورنس براك براى بررسى بلورها بكار
اين روش بر باية خاصيت موجى اشعه ايكس استوار است. يس از
برخورد پرتو ۷ به الکترونهاي ماده آنها را به نوسان وادار ميکند و
اين الکترونها نیز باعث تابش پرتو ا درفضاي اطراف خود با همان
بسامد پرتو ابتدايي خواهند شد.این امر اساس پراش پرتو ایکس
است .
1 موجی در حدود ۰/۵
صفحه 4:
قانون براگ بر 200191 5 برتوهاى تابيده شده به جسم
بلورين با زاويه بازتاب تنا بازتاب مى شوند و با مشخص بودن طول
موج يرتو ايكس بكار رفته میتوان از روى
صفحات بلوری را بدست آورد.
که از فرمول زیر تبعیت میکندکه:
مول 9- ل(
صفحه 5:
Eee
« مرتبه بازتاباستو م واند اعداد صحيح كوجكىباشد
« طولموج يرتو ميكساسدكه ا كتروزيا نوترونرا جایجا نموده
است
ف ضاءخا رمیانلتمهاستو
9 زاویهایکه پرتوهاءب ازتابیده شد با سطح جسم میسازند
این معادله میگهند که کدام زامبه بر ای باز تاب با طول موج و
خانواده ص 2 2 5/00 20
صفحه 6:
بلور شناسي با روش پودري:
براي مطالعه بلی ای و اشعه ایکس روشهاي استاندارد
متنوعی وجود دارند كه در اين ميان روش پودر از همه رایجتر است.
در روش يودرى مواد بصورت بلورهاي كوجكي به ابعاد ميكرو متر
يا كمتر خرده شده استفاده مى شود.
در اين روش , پودر مواد کریستالی را تهیه كرده در مسير اشعه
ایکس قرار می دهند و زاویه بین امتداد اشعه با امتداد بازتاب تفرق
که wo OC باشد قابل اندازه گیری خواهد بود.
با ات مقدار در را 51 1 فاد ین فسات ۱۳۲۰
11 یف رای که اشعه با تمام صفحالة
کریستالی زوایای صفر تا 90درجه درست کند نمونه را پودر کرده و
در طول He lass Gabe jl ۳
il آرمايش ,1 ات تجام داد که معروف
ترین آنها روش دبای شرر وروش تفرق سنجی است.که به بیان اين
صفحه 7:
روش دبای سرر
Debye Scherrer
در اين زوش از ۰ ۳ تشکل که نمونه در مرکز قرار می
كيرد استفاده می شود.نمونه به صورت مبله ای بطول تقریبا
1تا 2سانتیمتر و به قطر کمتر از 0.5 میلیمتر ساخته می شود.
در داخل محفظه در سطح جانبی فیلمی به عرض 35 میلیمتر تمام
سطح جانبی را می پوشاند تا با چرخش نمونه وتابش اشعه ایکس
امتدادهای بازتات زا کذانانتی ار تعری ایست کیت نماید:
0 شكل شدهائد
geo nl sis,
آزمايش ف
صفحه 8:
وضعیت دوایر ثبت شده بر
روی فیلم مماس بر سطح
جانبی دوربین دبای شرر در
كلت كه فلم ار کالت استاده
ای به حالت مسطح اورده ت73
است.
صفحه 9:
وضعیت قرار گرفتن نمونه
در دوربین دبای شرر و
پیدایش دوایر روی سطح جانبی
خوزیین پس از برخورد اشعه
صفحه 10:
X rays in i
through
film hole 1
Direction of
Split in strip film عع Film nondiffracted beam
toward top inside
camera
orev یی LE
beam Center-to-center arc = 180°
صفحه 11:
روش نفرق سنجی كم عت گتوری
Diffractometer Measurements
در روش دبی شرر گفته شد اگر نمونه در مرکز یک دایره قرار
گیرد واشعه ایکس در امتداد قطر این دایره به نمونه برخورد نماید
امتدادهای تفرق ناشی از برخورد اشعه ایکس به صفحات کریستالی
يديد مى ايند كه مى توان بر روى فيلمى در محيط اين دايره ثبت
ميشود.
روشی دیگر برای تشخیص این امتدادهای تفرق یی از بت نوع
شمارنده می باشد.شمارنده ممکن است بر اساس بو
| یا خاصیت فلورسانس یک ماده براثر برخورد
ای سرد طرر کار آن بزاساس وثرة شا
برخورد اشعه باگاز می باشد.بدین ترتیب که
الکترودها حرکت مینماید.
صفحه 12:
هر گاه تغییرات زاویه ای شمارنده را بر حسب جریان آند وکاتد آن
رسم کنیم منحنی به صورت زیر بدست می آید.در محل هایی که
منحنی پیک را نشان می دهد محل هایی هستند که امتداد تفرق
وجود دارد و در صورت وجود فیلم دبی شرر در این محل ها خط
خواهیم داشت.با اندازه گیری 86 از روی محلهای پیک ها می توان ل
را با استفاده از قاتون براگ اليه كرد مقدار 2زاويه بين امتداد.
اشعه ومحل شمارنده می باشد in 7 Flay aS
شده است! از آت تاک لبنت بل ره ۲ ۱
است تغس ات مهجود در فاصلههای پر 2
صفحه 13:
شناسايي مواد به كمك يراش يرتو لا
الگوي پرتوایکس هر تركيب منحصر به فرد است در آزمايش يراش
سنجي هدف اصلي تعيين زاويههاي مربوط به هر بيك و سپس
مشخص كردن فاصله صفحدهاي اتمي مقدار 4 ميباشد. با در
گم ميم قم نمت أذ
دست داشتن ارقام مر.عط dha که .۱
ان a oe
مجهول را شناسايي کر
مقر اطعا
ارقام مربوط به سه
پيك قوي در الگوست
که در سمت بالا و چپ
کارت مد
صفحه 14:
منایع:
کتاب بلور شناسی (مطالعه بلورها وکاربرد اشعه ایکس
در بلورشناسی) مولف:دکتر حسین آشوری
CLS مبانی پراش پرتو ایکس,نویسنده :بی,دی, کالیتی
FADAK.US
chemist2011.mihanblog.com
edu.nano.ir