آنالیز و مطالعه مواد به روش XRF
اسلاید 1: بسمه تعالیروش هاي نوين مطالعه موادموضوع سمینار: آناليز و مطالعه مواد به روش XRFاستاد: جناب آقاي دکتر ادريسارائه کننده: احمد اسماعیلی – مهرنوش برات پور
اسلاید 2: 1. مقدمه ای بر XRF2. اساس کار3. بخشهای مختلف دستگاه4.انواع دستگاه XRFسر فصل مطالب5. خصوصیات دستگاه26. منابع
اسلاید 3: XRF3
اسلاید 4: قابل استفاده بودن براي نمونه هاي مختلفسرعت آناليز نسبتاً بالا و کاربري آسانارائه نتايج کمي نسبي بسياري از نمونه ها بدون نياز به نمونه استانداردنامناسب براي عناصر با عدد اتمي کمتر از 11خصوصیات4
اسلاید 5: 5
اسلاید 6: الکترونی از لایه M جای خالی را پر می کندالکترون خارج شده از لایه Lپرتو ایکس نشر می شود الکترون خارج شده از لایه Kپرتو ایکس نشر می شود 6نشر پرتو x
اسلاید 7: لامپ تولید اشعه xفضای حرکت الکترون ها عاری از هرگونه گازی بمباران هدف فلزی توسط الکترون های پر انرژیایجاد یک میدان قوی بین چشمه ی الکترونی و هدف بمباران شوندهبخش اصلی این لامپ محفظه شیشه ای استآند فلزی (هدف)رشته تنگستنی7
اسلاید 8: بین رشته تنگستنی و هدف ولتاژ بالایی پدید می آید گرم شدن الکترون های گسیل شده در اثر عبور جریان الکتریکی برخورد الکترونها با هدف و اندرکنش آنها پدید آمدن پرتو x یا طیف پیوسته8
اسلاید 9: بلور آنالیز کننده ترکیب های پلیمری که برای شناسایی عنصر های سبک مفیدترند.بلور فلورید سدیم (NiF) بیشترین کاربردرا در دستگاه های دستگاه طیف سنجفلورسانس پرتو ایکس داردبرای شناسایی عنصر های پتاسیم تا اورانیم به کار می رود9
اسلاید 10: آشکار سازی طول موج های بلندتعیین شدت پرتو ثانویه ورودی و ارسال آن به قسمت ثبت کننده10
اسلاید 11: انواع دستگاه های XRFبراساس نوع آشکارسازی EDSWDSتفکیک پرتو x خروجی از نمونه مجهول پیش از ورود به آشکار ساز آنالیز تفکیک انرژیآنالیز تفکیکطول موجپرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود، وارد آشکار ساز می شود. 11
اسلاید 12: انواع دستگاه های XRFنوع دستگاهدستی(متحرک)رومیزی(ثابت)12
اسلاید 13: پرتو خروجی از لامپ پدید آورنده ی پرتو ایکس به نمونه می تابدبمباران الکترونیجایگزینی این الکترونها عبور از جمع کننده یا کلیماتورآنالیز تفکیک طول موج WDSخارج شدن این الکترونها از مدارهای داخلی پدید آمدن پرتو ایکس (حاوی عنصرهای نمونه مجهول) هدایت به سوی بلور13
اسلاید 14: وارد شدن پرتو خروجی نمونه بدون تفکیک توسط بلور آنالیزکننده پرتوی x ورودی به دتکتور ایجاد جریان با ورود پرتو x به آشکار ساز بین الکترودها آنالیز تفکیک انرژی EDSتههیج الکترون های باند هدایت به جا گذاشتن حفره های با بار مثبت در مدارهای خارجی الکترونتقویت پالس و فرستادن به کامپیوتر 14
اسلاید 15: آنالیز تفکیک انرژی EDSآنالیز تفکیک طول موج WDSآشکار سازی مقادیر کم آشکارسازی عناصر سبکاندازی گیری کمی ارتفاع پیک ها آنالیز کیفی سریعبه دلیل نزدیک بودن آشکار ساز به نمونه پرتوهای x را به طور مؤثری جمع می کندمقایسه روش های EDS و WDS15
اسلاید 16: XRF جایگزین روش های آنالیز شیمی تر شده سرعت و دقت بالا کاربردهای روش XRFوابستگی کم به دقت شخص آنالیز کننده16
اسلاید 17: محدوده ی عناصر همه به جز عناصر با عدد اتمی کم : هیدروژن ، هلیم ، و لیتیم مخرب بودن خیرعمق نمونه برداری اشعه در محدوده ی 10 میکرومتر حد آنالیز معمولا 0.1 درصد در غلظتملزومات نمونه قطر کمتر از 5 سانتی متردقت بعلاوه و منهای 1% برای ترکیب ، بعلاوه و منهای 3% برای ضخامت مشخصات آزمون17
اسلاید 18: آماده سازی نمونه در دستگاه XRFخشک کردن خردایش نمونه گیرینرمایش18
اسلاید 19: خصوصیات دستگاه XRFقابلیت ها مزایامعایب خطاهااندازه گیری کیفی و کمی عناصرآنالیز بالک شیمیایی عناصر اصلی دادن نتایج به صورت اکسیدیاقتصادی بودن تجزیه برای هر نمونهاندازه گیری عناصر کمیاب خاکی تجزیه برای چندیدن عنصرقیمت زیاد دستگاهحساسیت کم دستگاهنیاز به حرارت بالا برای آنالیزخطای تصادفی خطای سیستماتیک19
اسلاید 20: منابع1- فرهاد گلستانی فرد ، روش های شناسایی و آنالیز مواد ، انتشارات دانشگاه علم و صنعت، 13832- محمد تلافی نوغانی و وحید ابویی مهریزی، آشنایی با روش های نوین شناخت و آنالیز مواد، انتشارت فدک ایساتیس، 1385.3-Peter Brouwer, “Theory of X-Ray”, 2010, PANalytical B.V. ,The Neterlands.4-ASM Metals Handbook, Vol.10, 9th Ed5- www.edu.nano.ir20
اسلاید 21: Thank You !21
نقد و بررسی ها
هیچ نظری برای این پاورپوینت نوشته نشده است.