آناليز و مطالعه مواد به روش XRF

صفحه 1:
سم تعالی و روش های نوین مطالعه مواد ‎Fale‏ ‏موضوع سمیتار: 7 ۷ ‎a‏ آتاليز و مطالعه مواد به روش 81)ا [1 pets Rare ene ارائه کننده: ۱ 

صفحه 2:
۵ خصوصيات دستكاه تا 

صفحه 3:


صفحه 4:
Sere 

صفحه 5:
| 

صفحه 6:
نشر پرتو کا se Mad jh gah 2 nb ‏لال‎ الکترون خارج شده از ‎Kay‏ الكترون خارج ده از ‎ad Lay‏ پرتوایکس تشبر فى تود 

صفحه 7:
ای حرکت الکترون ها عاری از هرگونه گازی تا 

صفحه 8:
تا 

صفحه 9:
1۱ ra Lp reeves Care ‏را در دستگاه های دستگاه طیف سنج‎ تا ‎Ce RC ner‏ رای شناسانی عصر های بتان متا ‎eae Arp‏ ل اورانیم به کار می رود 

صفحه 10:
تا 

صفحه 11:
انواع دستگاه های 6۹۴( براساس نوع آشکارسازی ‎EDS ۷۵5 5‏ طول موج آنلیز تفکیک 7 آنرژی پرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده ت ‎ira es ened‏ ‏تفکیی شود. وارد آشکار ساز می شود وروذ به آشکار ساز ‎ 

صفحه 12:
انواع دستگاه های 6۹۴( VA 2 تا 

صفحه 13:
آنالیز تفکیک طول موج ۷۷۵5 0 ۷ *_بمباران الکترونی ۳ خارج شدن این الکترونها از مدارهای داخلی ‎eres ca‏ ۲ ‎sel Pe a eases Pn‏ هدايت به سو بلور (Sresrunye emer ae Kc ee ge rele الوله يرتو ايكس تا 

صفحه 14:
آنالیز تفکیک انرژی ۴05 وارد شدن پرتو خروجی نمونه بدون تفکیک توسط بلور آنالیز کننده برتوی 6 ورودی به دتکترر اک تهییج الکرون های باند هدایت : SS ers eae iC Ue arco See pa به جا گذاشتن حفره های با بار مثبت در مدارهای خارجی الکترون آتقوبت بالس و فرستاد 

صفحه 15:
مقايسه روش هاى 205 و ۱/9 آناليز تفكيى انرزى 505 آنالیز تفکیک طول موج ۷۱۷95 ‎pre ied‏ اندازی گیری کمی ‏ آشکارسازی آشکار سازی ‎Sone palie reese‏ مقلدیر کم ‎MACY‏ ار ‎FS sa os eae‏ مزثری جمع می کند ‎ ‏ات 15 

صفحه 16:
كاربردهاى روش 875ا تا 0 — سرعت و دقت بالا ال وابستگی کم به دقت شخص آنالیز کننده تا 

صفحه 17:
معمولا ۰.۱ درصد در غلظت قطر کمتر از ۵ سانتی متر 

صفحه 18:
خشک کردن خردایش 020 در دستگاه 8۴ Perce نرمایش 

صفحه 19:
اندازهگیری کیفی و کمی عناصر آنالیز بالک شیمیایی عناصر اصلی دادن نتايج به صورت اكسيدى اقتصادى بودن تجزيه براى هر نمونه مزايا خصوصيات دستگاه 2۳8۳ معايب خطاها 000 ater تجزیه 01 

صفحه 20:
Poles) ۱- فرهاد گلستانی فرد . روش های شناسایی و آنالیز مواد . انتشارات دانشگاه علم و صنعت. ۱۳۸۳ ۲- محمد تلافی نوغانی و وحید ابویی مهریزی. آشنایی با روش های نوین شناخت و آنالیز مواد.انتشارت فدک ایساتیس, ۱۳۸۵ ‎3-Peter Brouwer, “Theory of X-Ray”, 2010, PANalytical B.V. ,The Neterlands.‏ ‎4-ASM Metals Handbook, Vol.10, 9 Ed‏ 5- www.edu.nano.ir ات 20 

صفحه 21:
تا 

بسمه تعالی روش هاي نوين مطالعه مواد موضوع سمینار: آناليز و مطالعه مواد به روش XRF استاد :جناب آقاي دکتر ادريس ‏Company ‏LOGO ارائه کننده: احمد اسماعیلی – مهرنوش برات پور سر فصل مطالب .1مقدمه ای بر XRF .2اساس کار .3بخشهای مختلف دستگاه .4انواع دستگاه ‏XRF .5خصوصیات دستگاه .6منابع ‏COMPANY LOGO 2 روش آنالیزعنصری است تکنيک طيف سنجي نشري ‏XRF شناسايي و آناليز کمي و کيفي ‏COMPANY LOGO 3 خصوصیات قابل استفاده بودن براي نمونه هاي مختلف سرعت آناليز نسبتاً باال و کاربري آسان ارائه نتايج کمي نسبي بسياري از نمونه ها بدون نياز به نمونه استاندارد نامناسب براي عناصر با عدد اتمي کمتر از 11 ‏COMPANY LOGO 4 بخش هاي مختلف دستگاه XRF منبع توليد اشعه ‏X بلور آنالیزکننده : فيلت ر ‏COMPANY LOGO تار گ ت ديتکتور موا زي کنن ده 5 نشر پرتو x پرتو ایکس الکترونی از الیه Mج:ای نشر می شود خالی را پر می کند الکترون خارج شده از الکترون خارج شده الیه L از الیه K پرتو ایکس نشر می شود ‏COMPANY LOGO 6 بمباران هدف فلزی توسط الکترون های پر انرژی آند فلزی (هدف) المپ تولید اشعه x ایجاد یک میدان قوی بین چشمه ی الکترونی و هدف بمباران شونده ‏COMPANY LOGO فضای حرکت الکترون ها عاری از هرگونه گازی رشته تنگستنی بخش اصلی این المپ محفظه شیشه ای است 7 بین رشته تنگستنی و هدف ولتاژ باالیی پدید می آید گرم شدن الکترون های گسیل شده در اثر عبور جریان الکتریکی برخورد الکترونها با هدف و اندرکنش آنها ‏COMPANY LOGO 8 پدید آمدن پرتو xیا طیف پیوسته بلور آنالیز کننده بلور فلورید سدیم ( )NiFبیشترین کاربرد را در دستگاه‌ های دستگاه طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس دارد برای شناسایی عنصر های پتاسیم تا اورانیم به کار می‌ رود ‏COMPANY LOGO ترکیب‌ های پلیمری که برای .شناسایی عنصر های سبک مفیدترند 9 آشکار سازی طول موج های بلند پنجره برلیومی بسیار نازک آشکار ساز گازی تهییجی وظیفه اصلی تعیین شدت پرتو ثانویه ورودی و ارسال آن به قسمت ثبت کننده ‏COMPANY LOGO 10 انواع دستگاه های XRF براساس نوع آشکارسازی آنالیز تفکیک طول موج ‏WDS پرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود ،وارد آشکار ساز می شود. ‏COMPANY LOGO ‏EDS آنالیز تفکیک انرژی تفکیک پرتو xخروجی از نمونه مجهول پیش از ورود به آشکار ساز 11 انواع دستگاه های XRF نوع دستگاه رومیزی(ثابت) ‏COMPANY LOGO دستی(متحرک) آنالیز تفکیک طول موج WDS • پرتو خروجی از المپ پدید آورنده ی پرتو ایکس به نمونه می تابد • بمباران الکترونی • جایگزینی این الکترونها • عبور از جمع کننده یا کلیماتور ‏COMPANY LOGO خارج شدن این الکترونها از مدارهای داخلی پدید آمدن پرتو ایکس (حاوی عنصرهای نمونه مجهول) هدایت به سوی بلور 13 آنالیز تفکیک انرژی EDS • وارد شدن پرتو خروجی نمونه بدون تفکیک توسط بلور آنالیزکننده • پرتوی xورودی به دتکتور • ایجاد جریان با ورود پرتو xبه آشکار ساز بین الکترودها به جا گذاشتن حفره های با بار مثبت در مدارهای خارجی الکترون تههیج الکترون های باند هدایت تقویت پالس و فرستادن به کامپیوتر ‏COMPANY LOGO 14 مقایسه روش های EDSو WDS آنالیز تفکیک انرژی EDS آنالیز کیفی سریع آنالیز تفکیک طول موج WDS اندازی گیری کمی ارتفاع پیک ها آشکارسازی عناصر سبک آشکار سازی مقا:دیر کم به دلیل نزدیک بودن آشکار ساز به نمونه پرتوهای xرا به طور مؤثری جمع می کند ‏COMPANY LOGO 15 کاربردهای روش ‏XRF XRFج:ایگزینرو:شهایآنا::لیز ش::یمیت::ر ش::ده: سرعت و دقت باال وابستگی کم به دقت شخص آنالیز کننده ‏COMPANY LOGO 16 مشخصات آزمون همه به جز عناصر با عدد اتمی کم :هیدروژن ،هلیم ،و لیتیم محدوده ی عناصر خیر مخرب بودن در محدوده ی 10 Pمیکرومتر عمق نمونه برداری اشعه معموال 0.1درصد در غلظت حد آنالیز قطر کمتر از 5سانتی متر ملزومات نمونه بعالوه و منهای %1برای ترکیب ،بعالوه و منهای %3برای ضخامت دقت ‏COMPANY LOGO 17 خشک کردن خردایش آماده سازی نمونه در دستگاه XRF نمونه گیری نرمایش ‏COMPANY LOGO 18 اندازه گیری کیفی و کمی عناصر قابلیت ها آنالیز بالک شیمیایی عناصر اصلی دادن نتایج به صورت اکسیدی اقتصادی بودن تجزیه برای هر نمونه مزایا خصوصیات اندازه گیری عناصر کمیاب خاکی تجزیه برای چندیدن عنصر دستگاه XRF قیمت زیاد دستگاه معایب حساسیت کم دستگاه نیاز به حرارت باال برای آنالیز خطای تصادفی خطاها ‏COMPANY LOGO خطای سیستماتیک 19 منابعP -1فرهاد گلستانی فرد ،روش های شناسایی و آنالیز مواد ،انتشارات دانشگاه علم و صنعت1383 ، -2محمد تالفی نوغانی و وحید ابویی مهریزی ،آشنایی با روش های نوین شناخت و آنالیز مواد ،انتشارت فدک ایساتیس.1385 ، 3-Peter Brouwer, “Theory of X-Ray”, 2010, PANalytical B.V. ,The Neterlands. 4-ASM Metals Handbook, Vol.10, 9th Ed 5- www.edu.nano.ir ‏COMPANY LOGO 20 21 COMPANY LOGO