تفرق اشعه ایکس(XRD)

تفرق اشعه ایکس(XRD)

اسلاید 1: عنوان ارائه:پراش اشعه ایکس(X-Ray Diffraction)نام استاد:دکتر محمد تلافی نوغانیاکبرجلوخانیدی ماه991

اسلاید 2: 2

اسلاید 3: معرفی کلیپراش پرتو ایکس XRDیک تکنیک پیشرفته و غیرمخرب برای تحلیل طیف وسیعی از مواد شامل سیالات , فلزات , پلیمرها , کاتالیزورها , مواد دارویی , سرامیک، سلول خورشیدی و نیمه‌رساناها است .پراش Diffractionپدیده ای است که در آن اشعه های ایکس پراکنده شده توسط اتم ها در یک ساختار بلورین در جهت های خاص فضایی همدیگر را تقویت کرده و اشعه قوی تری را به وجود آورند. این پدیده که تنها روش مستقیم تعیین ترکیب و ساختار فازی مواد است. کاربرد وسیعی در تعیین ساختار بلورین مواد و فازهای بلوری موجود در نمونه های معدنی دارد.3

اسلاید 4: تاریخچه1895 :کشف اشعه ایکس توسط رونگتن.۱۹۱۲ :پراش (تفرق) اشعه ایکس توسط فون لاوه کشف شد.1914: یافتن اولین الگوی پراش یک کریستال که توسط کنیپینگ و فون لائو.1915: توسعه یافتن تئوری برای تعیین ساختار بلوری از الگوی پراش توسط براگ. اکنون پراش توسط فناوری رایانه بهبود یافته است. روش هایی برای تعیین ساختارهای اتمی و کاربردهای پزشکی استفاده می شود.4

اسلاید 5: اساس روش آنالیز XRDاشعه ایکس ناشی از انتقال الکترون از یک لایه با انرژی بیشتر به یک لایه با انرژی کم تر5

اسلاید 6: برخورد اشعه ایکس به یک اتم یا مولکول، باعث تحریک و نوسان الکترون‌های اتم یا مولکول می‌شود.اشعه های پراکنده شده در صورتی یکدیگر را تقویت می کنند که هم فاز باشند. در غیر اینصورت اشعه ها یکدیگر را تضعیف و حذف می کنند  و اختلاف مسیر ایجاد شده ایجاد اختلاف فاز می کند. در مواد آمورف اشعه ها یکدیگر را تضعیف می کنند و پدیده پراش اتفاق نمی افتد ولی اگر اتم ها به صورت منظم و با فاصله های مشخص کنار هم قرار گیرند (ماده کریستالی باشد)، اختلاف مسیر طی شده مضربی از طول موج اشعه ایکس بوده و پراش صورت می گیرد.6

اسلاید 7: قانون براگ(BRAGG’S LAW)اشعه ایکس به صفحات کریستال برخورد کرده و بازتاب می‌شود.QK −PR = PK cos 𝜃 − PK cos 𝜃 = 0.ML+ LN= d / sin θ+ d / sin θ.nℷ= 2 d / sin θ.7

اسلاید 8: 8